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Obleas tipo P

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0.4-1.1 <Ω·cm>

Resistividad

≤16 <ppma>

Contenido de oxígeno

≤1 <ppma>

Contenido de carbono

≥70 <µs>

Duración de portadores minoritarios

Propiedades del material

Proyectos Especificaciones Método de detección
Método de crecimiento Método Czochralski --
Cristalinidad Método Czochralski --
Tipo de conductividad Tipo P Tester del tipo PN
Tama?o M10：182.2*182.2*φ247mm
G12：210*210*φ295mm		 Clasificador de obleas de silicio
Grosor M10：90-160μm
G12：90-160μm		 Clasificador de obleas de silicio

Propiedades eléctricas

Proyectos Especificaciones Método de detección
Resistividad 0.4-1.1 <Ω·cm> Clasificador de obleas de silicio
Tiempo de vida de portadores minoritarios ≥ 70 <μs> Tiempo de vida de portadores minoritarios del tester BCT-400
Contenido de oxígeno ≤16 Espectrómetro infrarrojo con transformada de Fourier FTIR (ASTM F121-83)
Contenido de carbono ≤1 Espectrómetro infrarrojo con transformada de Fourier FTIR (ASTM F123-91)

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