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Obleas de silicio monocristalino tipo N

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0.4-1.6 <Ω·cm>

Resistividad

≤12 <ppma>

Contenido de oxígeno

≤1 <ppma>

Contenido de carbono

≥800 <µs>

Duración de portadores minoritarios

Propiedades del material

Proyectos Especificaciones Método de detección
Método de crecimiento Método Czochralski --
Cristalinidad Monocristalino --
Tipo de conductividad Tipo N Tester del tipo PN
Tama?o M10：182.2 × 182.2 × φ247 mm
G12：210 × 210 × φ295 mm
G12-R：182 × 210 × φ272 mm		 Clasificador de obleas de silicio
Grosor M10：90-160 μm
G12：90-160 μm
G12-R：90-160 μm		 Clasificador de obleas de silicio

Propiedades eléctricas

Proyectos Especificaciones Método de detección
Resistividad 0.4-1.6<Ω·cm> Clasificador de obleas de silicio
Tiempo de vida de portadores minoritarios ≥800<μs> Tiempo de vida de portadores minoritarios del tester BCT-400
Contenido de oxígeno ≤12 Espectrómetro infrarrojo con transformada de Fourier FTIR (ASTM F121-83)
Contenido de carbono ≤1 Espectrómetro infrarrojo con transformada de Fourier

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